S.M.A.R.T.とは？

S.M.A.R.T.(Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology)は、内蔵ストレージ製品の障害の発見や故障の発生を予測するために、ハードディスクやソリッドステートドライブ（SSD）に搭載されている自己診断の機能のことをいいます。

取得できる各属性値（読み込みエラーの発生率、スループットの値、温度など)と、あらかじめ内蔵ストレージ製品自身に設定されている「しきい値」とを比較することで、故障の発生を予測したり、劣化の状態を知ることができます。

メーカーや製品によっては、S.M.A.R.T.の機能が搭載されていない場合もありますが、現在製造されている内蔵ストレージ製品にはほとんど搭載されています。

＜各属性値について＞

S.M.A.R.T.の機能によって取得できる各属性値には、以下のようなものがあります。

これら全ての情報また、属性値の内容が取得できるわけではありません。メーカーや製品によって、取得できる属性の種類は異なります。
また、属性値の内容がここに書かれたものとは違う場合があります。詳しくはご利用になっている内蔵ストレージ製品の仕様書をご確認ください。

属性値（ID）	名前	内容
01	Raw read error rate	読み込みエラー発生率内蔵ストレージ製品からデータを読み込むときに発生したエラーの割合を表す。
02	Throughput Performance	スループットパフォーマンス内蔵ストレージ製品の全体的な処理能力を表す。
03	Spin up Time	スピンアップタイム内蔵ストレージ製品に通電してから、規定の回転数に達するまでの平均時間を表す。
04	Start/Stop count	スタート／ストップカウント内蔵ストレージ製品のスピンドルモーターが回転／停止をした回数を表す。
05	Reallocated sector count	代替処理されたセクタ数内蔵ストレージ製品の予備エリアに代替処理された不良セクタ数を表す。
06	Read channel margin	リードチャネルマージン内蔵ストレージ製品からデータを読み込むときのチャネルマージンを表す。
07	Seek error rate	シークエラー発生率内蔵ストレージ製品の磁気ヘッドが、目的の場所へ移動しようとして失敗した割合を表す。
08	Seek timer performance	シークタイムパフォーマンス内蔵ストレージ製品の磁気ヘッドが、シークに要した時間を表す。
09	Power-on hours count	通電時間内蔵ストレージ製品の総通電時間を表す。
0A	Spin up retry count	スピンアップリトライカウントスピンアップ（ディスクの回転を規定の速度まで上げる）を再試行した回数を表す。
0B	Calibration retry count	キャリブレーションリトライカウントキャリブレーション（熱により磁気ヘッドの位置がずれるのを補正して正しい位置へ戻す）を再試行した回数を表す。
0C	Power cycle count	電源投入回数内蔵ストレージ製品の電源をON/OFFした回数を表す。
0D	Soft read error rate	プログラムのリードエラー発生率プログラムが内蔵ストレージ製品からデータを読み込むときに発生したエラーの割合を表す。
BF	G-sense error rate	衝撃によるエラー発生率内蔵ストレージ製品に衝撃が加えられたことによって発生したエラーの割合を表す。
C0	Power-off retract count (Emergency Retract Cycle Count)	磁気ヘッドの緊急退避回数内蔵ストレージ製品の電源が不意に切られて、磁気ヘッドが緊急退避した回数を表す。
C1	Load/Unload cycle count	ロード／アンロード回数内蔵ストレージ製品の磁気ヘッドが、退避場所に移動した回数を表す。
C2	HDA temperature	温度内蔵ストレージ製品の温度を表す。
C3	Hardware ECC recovered	ECCエラー検出数 ECCによって検出されたエラーの回数を表す。
C4	Reallocation count	セクタの代替処理の回数セクタの代替処理が発生した回数を表す。
C5	Current pending sector count	代替処理を待っているセクタ数現在、代替処理が行われるのを待っているセクタ数を表す。
C6	Offline scan uncorrectable count	回復不可能なエラーの数オフラインスキャン（ストレージ製品へのアクセスがないときに自動的に行われる行うチェックのこと）時に発見した、回復が不可能なセクタ数を表す。
C7	UltraDMA CRC error rate	Ultra DMAモードでのCRCエラーの数 Ultra DMA(IDEインターフェイスの転送方式の１つ)モードで発生したCRCエラーの数を表す。
C8	Write error rate	書き込みエラー発生率内蔵ストレージ製品にデータを書き込むときに発生したエラーの割合を表す。
C9 (0Dと同じ)	Soft read error rate	プログラムのリードエラー発生率プログラムがストレージ製品からデータを読み込むときに発生したエラーの割合を表す。
CA	Data Address Mark errors	データアドレスマークのエラー数データアドレスマーク（データが内蔵ストレージ製品のどのトラックに存在するのかを位置決めするためのもの）に関するエラーの数を表す。
CB	Run out cancel	ランアウトキャンセル ECCエラーの頻度を表す。
CC	Soft ECC correction	ソフトECCエラー数ソフトウェアECCによって検出されたエラーの数を表す。
CD	Thermal asperity rate(TAR)	サーマルアスペリティ発生率サーマルアスペリティ（磁気ヘッドが記録媒体の突起などに衝突して、熱を発生する）によって生じるエラーの割合を表す。
CE	Flying height	磁気ヘッドの高さディスク表面から磁気ヘッドまでの高さを表す。
CF	Spin high current	スピンハイカレントディスクをスピンアップするために使用した電流を表す。
D0	Spin buzz	スピンバズバズルーチン（磁気ヘッドがディスク表面に接触しそうになったときに、ヘッドを垂直方向へ跳ね上げる動作）をした回数を表す。
D1	Offline seek performance	オフラインシークパフォーマンスオフライン（内蔵ストレージ製品へのアクセスがないとき）時のシーク性能を表す。
D2	Vibration During Write	データ書き込み時の振動内蔵ストレージ製品へデータを書き込み中に加わった振動を表す。
D3	Vibration During Read	データ読み込み時の振動内蔵ストレージ製品からデータを読み込み中に加わった振動を表す。
D4	Shock During Write	データ書き込み時の衝撃内蔵ストレージ製品へデータを書き込み中に加わった衝撃を表す。
DC	Disk shift	ディスクシフト強い衝撃などによって、内蔵ストレージ製品のプラッタが当初の位置からずれた場合に、その距離を表す。
DD （BFと同じ）	G-sense error rate	衝撃によるエラー発生率ストレージ製品に衝撃が加えられたことによって発生したエラーの割合を表す。
DE	Loaded hours	負荷時間通常の作業時間中に発生した磁気ヘッドの負荷の時間を表す。
DF	Load/Unload retry count	ロード／アンロードリトライカウントリード、レコード処理、ヘッドの位置決めなどのときに失敗して、再試行した回数を表す。
E0	Load friction	磨耗による負荷機械的なパーツの磨耗によって引き起こされる磁気ヘッドの負荷を表す。
E1 (C1と同じ)	Load/Unload cycle count	ロード／アンロード回数内蔵ストレージ製品の磁気ヘッドが、退避場所に移動した回数を表す。
E2	Load-in time	ロードインタイム磁気ヘッドが負荷を受けていた総時間を表す。
E3	Torque amplification count	トルク増幅量ディスクが回転する際のトルクの値を表す。
E4 (C0と同じ)	Power-off retract count	磁気ヘッドの緊急退避回数内蔵ストレージ製品の電源が不意に切られて、磁気ヘッドが緊急退避した回数を表す。
E6	GMR head amplitude	GMRヘッドの振幅 GMRヘッドの動作中において、ヘッドが振動する幅を表す。
E7 (C2と同じ)	Temperature	温度内蔵ストレージ製品の温度を表す。
F0	Head flying hours	ヘッドの位置決め時間磁気ヘッドが位置決めをしている時間を表す。
FA	Read error retry rate	リードエラー発生率内蔵ストレージ製品からデータを読み込む間に現れるエラーの割合を表す。